阿貝原理是什麼

阿貝原理主要有兩個方面：

顯微鏡成像原理。阿貝認爲在相干平行光照射下，顯微鏡的成像可分爲兩個步驟。首先，通過物體的衍射，在物鏡後焦面上形成一箇初級干涉圖（頻譜面）。其次，物鏡後焦面上的初級干涉圖複合爲像。

精密測量的基本原則。阿貝還提出了精密測量的基本原則，即在長度測量中，應將標準長度量（標準線）安放在被測長度量（被測線）的延長線上。這個原則強調測量的工具讀數軸和測量軸應同軸，從而才能獲取最大正確性的數值。