電子遷移和熱效應
eFuse（電子熔絲）的工作原理主要基於電子遷移和熱效應。
eFuse通常由編程器和熔絲兩部分組成，編程器將數據編程到熔絲中，改變熔絲的物理結構，使其數據不可更改。一旦熔絲被編程，即使電源斷開，數據也不會丟失。具體來說，eFuse通過在熔絲兩端施加電壓，讓電流流過時發生電子遷移，導致熔絲電阻值增大或產生焦耳熱使其熱斷裂。這樣，eFuse的電阻特性發生變化，這種變化可以被檢測以存儲數據。讀出數據時，將熔絲的電阻值轉換為電壓值進行判斷。
eFuse的套用範圍廣泛，包括晶片保護、電源管理、電路校準等。它們的優點包括體積小、功耗低、可程式性強、可靠性高、不易被擦除。然而，由於eFuse的編程結點可以通過電子顯微鏡看到，其存儲的內容有可能被破解。