JTAG（Joint Test Action Group）是一種由IEEE制定的標準，全稱為IEEE Standard 1149.1，主要用於晶片和印刷電路板的測試和調試。JTAG的主要作用包括：
測試：JTAG標準允許對積體電路進行電氣特性的測試，以檢測晶片是否存在問題。通過在器件內部定義一個測試訪問連線埠（TAP），可以使用專用的JTAG測試工具對內部節點進行測試。此外，JTAG還允許多個器件通過JTAG接口串聯在一起，形成一個JTAG鏈，實現對各個器件的分別測試。
調試：JTAG接口提供了一種在嵌入式系統中進行調試的機制，允許程式設計師通過JTAG讀取集成在CPU上的調試模組，從而調試嵌入式系統中的軟體。它還可以用於訪問CPU的內部暫存器、匯流排上的設備以及內置模組的暫存器。
編程：JTAG接口也常用於實現ISP（In-System Programming，在系統編程），對FLASH等器件進行編程。這對於FPGA/CPLD的開發尤為重要，通過JTAG接口可以向開發板或產品中導入程式和數據，實現對目標設備的配置和調試。
邊界掃描：邊界掃描技術是JTAG標準的一部分，它通過在晶片的輸入/輸出引腳上增加一個邊界掃描暫存器，實現對晶片輸入/輸出信號的觀察和控制。在調試狀態下，邊界掃描暫存器可以將晶片和外圍的輸入/輸出隔離開來，而在正常運行狀態下，邊界掃描暫存器對晶片來說是透明的。
JTAG接口通常由4條線組成：TMS（模式選擇）、TCK（時鐘）、TDI（數據輸入）和TDO（數據輸出）。