MZI（馬赫曾德爾乾涉儀）原理是一種光學乾涉技術，其核心在於通過改變光路中的相位差來影響乾涉效果。具體來說，MZI由兩個光臂組成，一束光被分束器分為兩部分，分別進入這兩個光臂，並在合束器處重新合併，產生乾涉現象。當兩個光臂的長度或折射率不同時，它們的光程也會不同，導致相位差的變化，進而影響乾涉圖樣的變化。
實現原理：
MZI通過在兩個光臂上施加不同的電場，改變波導纖維的折射率，從而調控光波的相位。
在基於矽基（CMOS）技術的MZI中，使用正向偏置的PIN二極體結構的調製器來通過載流子注入調製波導片段的折射率，這種調製器與CMOS技術兼容。
套用：
MZI型調製器通過改變一個光臂的折射率或長度來改變兩臂之間的相位差，從而影響輸出光場的乾涉模式。
基於MZI原理的感測器在光纖感測領域具有重要地位，其製作工藝簡單，靈敏度高，且適用於多種物理量的測量。
優勢與挑戰：
MZI感測器相比光纖光柵（FBG）感測器具有更靈活的峰值標定和更高的靈敏度。
儘管MZI感測器具有諸多優點，但其高成本和複雜結構限制了其大規模套用。
綜上所述，MZI原理不僅是一種基礎的光學乾涉技術，也在光纖感測、光學通信等領域發揮著重要作用。通過深入了解其工作原理和套用，可以更好地利用這一技術為各種實際套用提供解決方案。