X射線衍射分析
XRD分析，全稱X射線衍射分析(X-Ray Diffraction)，是一種利用X射線的衍射現象來研究物質內部結構的技術。
XRD分析的主要原理是，當X射線照射到晶體或非晶體物質上時，由於物質內部原子或分子結構的周期性排列，會發生X射線的衍射現象。衍射後的X射線信號特徵與物質的成分、原子或分子的內部結構、晶型、分子內成鍵方式等密切相關，通過收集和分析這些衍射信號，可以得到物質的成分、內部原子或分子的結構或形態等信息。XRD分析不僅用於確定物質的晶相組成和晶體結構，還廣泛套用於材料科學、冶金、化學、生物學、地質學等多個領域。