XRD（X射線衍射）分析能夠揭示物質的晶體結構、晶格參數、晶體相組成、晶體取向、晶體缺陷、晶體尺寸和形態等多方面的信息。以下是關於XRD能分析出的內容介紹：
晶體結構。通過分析衍射圖樣，XRD可以確定材料的晶體結構，包括晶格常數和晶胞參數，從而推斷出材料的原子排列方式。
晶格參數。XRD能夠提供晶格參數，如晶胞長度、角度和體積，這些參數對於描述晶體結構特徵非常重要。
晶體相組成。通過分析衍射圖樣，XRD還能夠確定材料中不同晶體結構的相對含量，這對於研究多相材料特別有用。
晶體取向。XRD還可以測定晶體在材料中的取向信息，包括晶體的取向度和分布，這對於研究材料的晶體生長和織構非常重要。
晶體缺陷。XRD能夠通過分析衍射圖樣來研究材料中的晶體缺陷，如晶格畸變和位錯。
晶體尺寸和形態。通過研究衍射峰的形狀和寬度，可以估計晶體的尺寸和形態，包括晶粒尺寸和晶粒形狀。
表面相與體相結構。XRD一般提供的是材料的體相結構信息，但也可以用於研究表面相。
定性和定量分析。XRD既可以進行定性物相分析，也可以通過對比標準譜圖進行定量分析，確定樣品中各物相的相對含量。
晶體質量和純度。通過分析XRD圖譜中的峰形和峰寬，可以評估晶體的質量和純度。
應力分析。XRD還可以用於研究樣品的晶體缺陷和應力，通過分析峰的位移或拓寬來推斷出樣品中的晶體缺陷類型和應力狀態。
綜上所述，XRD是一種多功能的分析技術，廣泛套用於材料科學、化學、物理學、生物學等多個領域。