雙脈衝測試是一種用於評估和分析電力系統、電子設備、組件以及半導體器件電氣特性的通用測試方法。
這種方法通過施加兩個連續的電壓或電流脈衝到被測設備（DUT），並測量其響應來進行工作。雙脈衝測試專門用於評估功率開關元件，如MOSFET和IGBT的開關特性，以及與之並聯的體二極管或快速恢復二極管（FRD）的反向恢復特性。在雙脈衝測試中，通常使用一箇較寬的“頂脈衝”來激勵目標，並利用一箇“底脈衝”來記錄目標的反射信號，通過分析兩個脈衝之間的差異，可以測量目標的散射特性，從而推斷目標的性質和狀態。這種測試方法不僅適用於雷達等領域，還廣泛應用於材料電學性能的測量，是一種非破壞性的測試方法。
雙脈衝測試具有快速、準確和靈敏度高的特點，可用於測量各種電子元器件和設備的電學參數，如反射係數、阻抗、傳輸係數等。