電容的損耗是指在電容器工作過程中因發熱而消耗的能量。
這種損耗主要由幾種不同類型的因素引起，包括介質損耗和金屬損耗。介質損耗主要是由於電容器的絕緣材料在電場作用下的電導和極化滯後效應導致的能量損耗，這包括介質漏電流引起的電導損耗和介質極化引起的極化損耗。金屬損耗則是因爲電容器中使用的金屬材料（如電容器極板和引出線）存在電阻，從而產生的能量損耗。金屬損耗通常隨着頻率和溫度的升高而增大，在高頻電路中工作時，金屬損耗的比例可能會很高。
電容器的損耗是衡量其品質的重要指標，影響電容器的使用壽命和在電路中的作用效果。各類電容器都規定了在特定頻率範圍內的損耗允許值。損耗角正切（Tan δ）是衡量這種損耗的一箇重要參數，其值越小，表明電容器的能量損耗越少。測量電容器的損耗通常通過對其施加一定頻率和電壓的電信號，並測量電流和電壓差來計算損耗角正切值。