小角散射(SAXS)是一種物理技術，主要用於研究亞微米尺度的固態及液態樣品結構。當X射線或光波照射到樣品上時，如果樣品內部存在電子密度的不均勻區，那麼散射的X射線或光波與入射的相比會有一個很小的角度偏差。這個散射現象是由於樣品內部電子密度波動引起的，當這些波動與入射波長相近時，就會產生小角度散射。
通過檢測這些小角度的散射信號，可以獲得關於材料內部微觀結構的信息，如粒子的大小、形狀、分散情況以及電子密度分布等。小角散射常用於分析特大晶胞物質的結構分析以及測定粒度在幾十個納米以下的超細粉末粒子的大小、形狀及分布。
此外，小角散射也常用於研究高分子材料，如測量高分子粒子或空隙的大小和形狀、共混的高聚物相結構分析、長周期、支鏈度、分子鏈長度的分析及玻璃化轉變溫度的測量。