半導體測試的接口
探針卡是一種用於半導體測試的接口，主要用於晶圓測試階段，是測試機臺和待測晶圓之間的連接。
探針卡是半導體產業中非常重要的一部分，它通過連接測試機和芯片，傳輸信號以對芯片的參數進行測試。這種測試是在芯片封裝前對芯片的電學性能進行初步測量，篩選出不良芯片後，再進行後續的封裝工程。探針卡的設計和材料選擇對測試的準確性和可靠性至關重要。
探針卡按結構類型分爲多種類型，包括刀片針卡、懸臂針卡、垂直針卡、薄膜式針卡和MEMS針卡等。這些類型的探針卡各有特點，適用於不同的測試需求和芯片類型。