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物相表徵方法

物相表徵方法主要包括以下幾個方面:

微觀形貌分析。這種方法涉及分析材料的幾何形貌、顆粒度、顆粒度分布以及形貌微區的成分和物相結構。常用的形貌分析方法有掃描電子顯微鏡(SEM)、透射電子顯微鏡(TEM)、原子力顯微鏡(AFM)和掃描隧道顯微鏡(STM)等。

物相結構分析。這種方法用於確定材料的晶體結構。常用的物相分析方法包括X射線衍射分析、雷射拉曼分析、傅立葉紅外分析和微區電子衍射分析等。

成分分析。這種方法用於分析材料的化學成分。體相元素成分分析包括原子吸收、原子發射ICP、質譜以及X射線螢光與X射線衍射分析方法。其中,X射線螢光與衍射分析方法可以直接對固體樣品進行測定,是非破壞性元素分析方法。

物理性能分析。常用的物理性能分析方法有氮氣吸脫附、熱重分析(TG)、熱重-質譜聯用分析(TG-MS)、程式升溫脫附(TPD)等。

光學金相顯微術。這是一種用來觀察材料內部微觀組織結構的基本光學方法。

比重法和磁選法。這些方法用於礦物的物相和無機的物相分析。

這些方法共同提供了關於材料性質和結構的全面信息,幫助科學家和工程師深入了解材料的特性和行為。