相位襯度是什麼

相位襯度是一種在透射電子顯微鏡（TEM）和X射線成像中用於顯示樣品內部結構的成像技術。

相位襯度利用電子或X射線束透過樣品後，由於樣品內部不同區域對波的相位影響不同，將這些相位變化轉換為振幅變化，從而在顯示裝置上形成明暗不同的圖像。這種襯度能夠反映樣品的真實結構，特別是對輕元素構成的樣品，因為這些樣品對X射線的吸收較弱，但折射較強，因此X射線相位襯度成像對於這些樣品有更高的靈敏度。