缺陷表示方法可以分為不同類型，具體如下：
按對產品的影響程度分類：
輕微缺陷：對產品外觀和下道工序可能會有輕微影響的缺陷。
一般缺陷：不影響產品的運轉和運行、不會成為故障起因，但對產品外觀和下道工序影響較大的缺陷。
嚴重缺陷：可以引起易於糾正的異常情況、可能引起易於修復的故障或對產品外觀造成難以接受的缺陷。
致命缺陷：會造成安全問題的各類缺陷。
按點缺陷的類型分類：
空位缺陷：用VM表示M原子占有的位置，在M原子移走後出現的空位。例如，VNa'表示在晶體中取走鈉離子晶格中多了一個電子，形成帶負電的空位VNa。
填隙原子：用Mi表示M原子進入間隙位置。
錯位原子：用MX表示M原子占據了應是X原子正常所處的平衡位置。
雜質原子：用LM表示溶質L占據M的位置。
自由電子及電子空穴：用e』表示自由電子，用h』表示電子空穴。
帶電缺陷：如Ca2+取代Na+——CaNa，Ca2+取代Zr4+——Ca」Zr。
締合中心：把發生締合的缺陷用小括弧表示。
缺陷符號表示方法：
空位：用VM和Vx分別表示M原子空位和X原子空位。
填隙原子：用Mi和Xi表示。
帶電缺陷：不同價離子之間的替代就出現除離子空位以外的又一種帶電缺陷。