阻抗的測量通常涉及到使用專門的電子測量儀器，如LCR表或阻抗分析儀。這些儀器能夠精確地測量電路中元件的電阻、電容和電感分量，從而得出阻抗值。以下是測量阻抗的一般步驟：
選擇正確的測量模式：根據被測元件的特性，選擇合適的測量模式。例如，對於高阻抗的測量，可能需要使用並聯等效電路模式（Cp - Rp），而不是串聯等效電路模式（R - X）。
連接測試儀器：將被測元件連接到電子測量儀器上，確保連接正確無誤。
設置測試參數：在測試儀器上設置適當的測試頻率和參數，以確保測量結果的準確性。
進行測量：啓動測量過程，記錄儀器顯示的阻抗值。阻抗通常表示爲一箇複數，其實部爲電阻，虛部爲電抗。
分析結果：根據需要，可以對測量結果進行進一步的分析，例如計算特定頻率下的阻抗值或繪製阻抗隨頻率變化的曲線。
輸入阻抗的測量可以通過分壓法來實現，具體步驟包括：
將信號源與待測電路連接，記錄輸入端的電壓V1。
在電路中串接一箇已知阻抗Ze（由電阻和電容組成），再次記錄輸入端的電壓V2。
應用串聯分壓原理，通過計算或使用公式得出負載電路的輸入阻抗。
以上步驟提供了一箇基本的框架，具體的測量方法可能會根據所使用的儀器型號和被測元件的特性有所不同。在進行測量時，應參考相關儀器的用戶手冊或技術規格書，以確保正確操作和準確測量。