AOI（自動光學檢測）技術的原理主要基於光學反射、光成像、圖像處理和檢測算法。其過程通常包括以下幾個步驟：
數據採集。AOI系統使用攝像頭（如電荷耦合器件CCD）掃描待測物品，如印刷電路板，捕捉其圖像。
圖像處理與分析。採集到的圖像會與資料庫中合格的參數或標準圖像進行比對，通過特定的算法來分析和識別缺陷。
缺陷檢測。AOI技術能夠檢測出如焊接不良、元件位置偏差等缺陷，並標記出來。
結果反饋。檢測結果可以通過顯示器顯示，或者用於自動標記和分類產品。
AOI技術的優點包括自動化程度高、檢測速度快、精度高，適用於多種工業生產環境。它廣泛套用於電子製造、汽車製造、醫藥包裝等領域，特別是在質量檢測和工藝過程監控中發揮著重要作用。