集成電路測試
IC測試，即集成電路測試，是一種用於確保集成電路(IC)質量、性能和可靠性的過程。
這些測試包括功能測試、結構測試、特性測試、溫度測試、可靠性測試、封裝測試等，旨在檢測IC是否符合設計規格並能正常工作。在半導體制造和電子設備領域中，IC測試對於確保產品的質量、性能和可靠性至關重要。例如，在通信設備、汽車電子等應用領域，嚴格的IC測試是確保設備穩定性和安全性的關鍵。
此外，IC測試過程包括使用各種測試設備和技術來檢查IC的功能和性能，包括使用萬用表、示波器、直流電源、自動測試設備(ATE)等電子儀器。這些測試可以幫助發現製造過程中的問題，並糾正它們，從而提高產品的良率和降低成本。