XRD（X射線衍射）可以用於分析物質的晶體結構、物相組成、晶格常數、晶體取向、晶體缺陷、晶體尺寸和形態等多方面的信息。具體可參考如下：
晶體結構。XRD可以通過分析衍射圖樣來確定材料的晶體結構，包括晶格常數、晶胞參數、晶體對稱性等信息。這對於確定晶體的類型（例如立方晶系、正交晶系、單斜晶系等）以及晶格畸變（例如應力、應變等）非常有用。
物相組成。XRD可以確定材料中的晶體相組成，即不同晶體結構的相對含量。這對於研究多相材料、相變現象以及材料的相變溫度、相圖等有重要意義。
晶體取向。XRD可以測定晶體在材料中的取向信息，包括晶體的取向度、取向分佈等。這對於研究材料的晶體生長、晶體取向對性能的影響以及材料的織構等有關鍵作用。
晶體缺陷。XRD可以用於研究材料中的晶體缺陷，例如晶格畸變、晶體中的位錯、欒晶等。這對於理解材料的缺陷結構、缺陷對材料性能的影響以及材料的失效機制等具有重要意義。
晶體尺寸和形態。XRD可以通過研究衍射峯的形狀和寬度來估計晶體的尺寸和形態，包括晶體的晶粒尺寸、晶體的形貌等。
樣品類型。XRD常用於測量晶體樣品，包括單晶和多晶樣品，也可以是無機晶體或有機晶體。多相樣品和薄膜塗層樣品也可以使用XRD進行分析。
納米材料。XRD可以用於研究納米材料的晶體結構和晶體尺寸。