XRD（X射線衍射）分析是一種重要的材料結構表徵技術，主要用於確定物質的晶體結構、相組成、晶格參數等。其基本原理是X射線與晶體中的原子相互作用，通過衍射現象來獲取物質的結構信息。XRD分析的步驟通常包括：
峰的識別與相識別。首先識別圖譜上的所有峰，確定它們的2θ位置和相對強度。然後根據峰的位置，使用標準的XRD資料庫（如JCPDS資料庫）來匹配相位，因為每種晶體結構都有獨特的XRD峰位特徵。
定量分析。如果樣品中有多種相，可以通過峰的強度來估計各相的質量分數。這通常需要使用專業軟體來擬合峰的形狀並整合峰面積。
嵌入分析、應力分析和優選取向分析。這些高級分析技術可以根據峰的細微移動、峰形變化等來推斷晶粒度、樣品應力狀態、優選取向等信息。
電子密度分析和高峰、面積分析。這些技術用於分析晶體內原子的平均位置、化學鍵等，以及通過衍射峰的相對強度來分析特定物質的含量。
在實際套用中，可能還需要更複雜的擬合和分析技術，結合樣品的已知信息來綜合判斷。例如，可以使用JADE等軟體進行數據處理、峰檢測和擬合、晶體結構分析等。此外，XRD分析不僅可以用於定性分析（確定樣品中存在的物質相），還可以用於定量分析（確定各相的含量或比例）、晶粒尺寸分析、晶向分析等。