二次擊穿是一種電子器件失效機制,通常發生在功率電晶體等設備中,指的是器件在經歷一次擊穿後,集電極電流急劇增加,在特定的電壓和電流條件下產生的一種負阻現象。
這種現象通常伴隨著電壓的突然下降,會導致器件發生永久性損壞或工作特性明顯退化。二次擊穿與雪崩擊穿不同,後者是一種電擊穿,通常是可逆的,而二次擊穿是一種熱擊穿,屬於不可逆過程。例如,在功率電晶體中,如果沒有適當的電流限制措施,過量的電流會導致PN結溫度過高,最終造成電晶體的燒毀。
二次擊穿是一種電子器件失效機制,通常發生在功率電晶體等設備中,指的是器件在經歷一次擊穿後,集電極電流急劇增加,在特定的電壓和電流條件下產生的一種負阻現象。
這種現象通常伴隨著電壓的突然下降,會導致器件發生永久性損壞或工作特性明顯退化。二次擊穿與雪崩擊穿不同,後者是一種電擊穿,通常是可逆的,而二次擊穿是一種熱擊穿,屬於不可逆過程。例如,在功率電晶體中,如果沒有適當的電流限制措施,過量的電流會導致PN結溫度過高,最終造成電晶體的燒毀。