石墨烯的表徵方法主要包括以下幾種：
光學顯微鏡法。這是一種快速簡便的方法，用於表徵石墨烯的層數。通過在石墨烯上覆蓋一層SiO2層，並在光學顯微鏡下觀察，可以利用石墨烯和襯底之間的乾涉效應來區分層數。這種方法可以精確地分辨出單層石墨烯。
掃描電子顯微鏡法（SEM）。SEM能夠清晰地顯示石墨烯的形貌，通過觀察圖像中的顏色和表面褶皺，可以大致判斷石墨烯的層數。單層石墨烯通常呈現為有一定厚度褶皺的不平整面，而隨著層數的增加，褶皺程度逐漸減小。
透射電子顯微鏡法（TEM）。TEM可以提供石墨烯的詳細結構信息，包括晶格常數和層間距。通過電子衍射（ED）分析，可以準確地判斷石墨烯的層數。
原子力顯微鏡法（AFM）。AFM可以測量石墨烯的表面形貌和層數，提供關於石墨烯厚度的詳細信息。
紅外光譜分析（FT-IR）。FT-IR用於分析石墨烯表面官能團的變化，從而提供關於石墨烯化學結構的信息。
以上方法各有優勢，可以根據具體研究需求選擇合適的表徵方法。