3D AOI（自動光學檢測）的原理主要基於結構光掃描技術和共焦原理。以下是3D AOI工作原理的詳細解釋：
結構光掃描技術：
雷射投射到被檢測物體上，形成特定的圖案。
通過攝像頭捕捉這些圖案的變形，從而獲取物體的三維坐標信息。
計算機對捕捉到的圖像進行處理，分析雷射圖案的變形，計算出物體的三維形狀。
共焦原理：
利用雷射光束將樣品聚焦到一個點上。
通過探測器檢測樣品表面的反射或螢光信號，獲取樣品的三維表面形貌信息。
結合2D和3D技術：
在保持原有二維成像、圖像分析和檢測能力的基礎上，加入數字投影測量技術用於高度的測算。
二維成像原理包括使用不同顏色和角度的光源照射物體，通過三原色原理反映被照物體曲面的變化情況。
綜上所述，3D AOI通過結合結構光掃描技術和共焦原理，以及可能的2D成像技術，實現對物體三維形狀的高精度檢測。這些技術共同作用，使得3D AOI能夠在生產線上對電子組件等進行高效、準確的檢測，提高產品質量和生產效率。