afm原理

原子間的相互作用力

原子力顯微鏡（AFM）的工作原理主要基於原子間的相互作用力。AFM包含一個微懸臂，其一端固定，另一端裝有納米級針尖。當針尖與樣品表面接近時，它們之間的原子間力（如範德華力）會導致微懸臂發生偏轉或振幅變化。這些形變通過光學檢測法或隧道電流檢測法被測量，從而獲得樣品表面的形貌信息。

在掃描過程中，通過控制針尖與樣品之間的力，可以保持恆定的高度或力量，進而構建樣品表面的高度圖像。AFM能夠在樣品表面達到原子級的解析度，常用於科學研究和工業套用中。