衰減全反射（Attenuated Total Reflection，ATR）是一種光學現象，其原理如下：
當一束單色光從一個折射率較高的介質（如稜鏡）以一定的入射角射入到一個折射率較低的介質（如空氣或某些固體）時，如果入射角超過某個特定值（即臨界角），光線會在兩種介質的界面發生全反射。
在全反射的情況下，光線並不會穿透到低折射率的介質中，而是在界面附近形成一種衰減波，這種波沿著界面以指數形式衰減。
這種衰減波可以有效地將能量耦合到金屬或半導體的表面，從而激發表面等離激元（SPs）或表面極化激元，導致反射光強度發生顯著衰減。
ATR技術被廣泛套用於化學、物理和生物領域，特別是在紅外光譜法中，通過將樣品放置在ATR元件的表面上，可以獲得樣品的光譜信息，從而進行成分分析或其他類型的化學分析。