近紅外光譜(NIR)技術是一種光譜分析方法，其原理基於物質對近紅外光的吸收、反射或透射。NIR光的波長範圍通常在700至2500納米之間，這個範圍允許光穿透樣品並與其相互作用，從而提供關於樣品化學成分、結構和性質的信息。
在NIR區域，分子振動的倍頻與合頻特徵信息與含氫基團（如O-H、N-H、C-H）相關。通過掃描樣品的近紅外光譜，可以獲得樣品中有機分子含氫基團的特徵信息。這種信息可以通過分析光譜中吸收峰的形狀、位置和強度來解讀，進而推測出待測物的成分及其含量。
NIR技術利用了分子內部振動的倍頻與合頻能吸收特定波段的電磁波形成的譜帶，這些譜帶包括大量含氫基團以及較弱的C=C、C-O等基團的信息。由於不同物質含有不同的基團，這些基團在不同的物理化學環境中對近紅外光的吸收波長有明顯差別，因此NIR光譜可以作為獲取樣品信息的一種有效載體。
總結來說，NIR光譜技術通過分析物質在近紅外光波段的吸收、反射或透射特性，結合分子振動的倍頻與合頻信息，來推斷樣品的化學成分和物理性質。