XRD（X射線衍射）分析是一種重要的材料科學和化學分析技術，主要用於研究物質的晶體結構。這種技術通過使用X射線照射樣品，並觀察衍射光的強度和角度變化來確定物質的晶體結構。XRD分析的主要套用包括：
定性分析。通過比較樣品衍射圖譜與已知標準PDF（粉末衍射標準）卡片的匹配，可以確定樣品中存在的物質相。
定量分析。通過分析衍射峰的強度或面積，可以估計樣品中各物相的含量。
結晶度分析。峰的尖銳程度可以反映樣品的結晶度。峰越尖銳，結晶度越好。
應力分析。衍射峰位的細微移動可以反映樣品中的應力狀態。
晶粒度分析。通過分析衍射峰的寬度，可以估算晶粒的大小。
電子密度分析。通過測量衍射光束的強度和角度，可以分析晶體中原子的電子密度分布。
XRD數據分析的基本步驟包括：
峰識別。確定圖譜上的峰位置和相對強度。
相識別。使用標準的XRD資料庫（如JCPDS）匹配峰位置以識別晶體相。
定量分析。通過峰強度估計各相的質量分數。
嵌入分析。用於檢測非晶物質和估計晶粒度。
應力分析。通過峰位偏移量分析樣品的應力狀態。
優選取向分析。通過比較同一相在不同晶面反射峰的相對強度，推斷生長過程等信息。
在實際套用中，XRD分析通常依賴於專門的軟體（如Jade或Highscore）來處理和分析數據。這些軟體提供了多種功能，如平滑處理、背景扣除、峰識別和匹配等，以幫助用戶更好地理解和解析XRD數據。