劈尖乾涉原理是一種基於光的乾涉現象的測量技術，主要用於檢查平面平整度和表面形貌。其基本原理如下：
光的乾涉：當兩束或多束光波在空間某一點相遇時，如果它們的相位差是光的半波長的偶數倍，則這些光波的波峰和波谷會相互加強，形成亮條紋；如果相位差是奇數倍，則波峰和波谷相互抵消，形成暗條紋。
劈尖乾涉裝置：通常包括一個光源、一個劈尖（由兩個平面組成的角）和一個螢幕。光源發出的光經過劈尖，在劈尖的兩個面上反射後，形成乾涉條紋。
乾涉條紋特點：
明暗相間的等間距條紋，表明光程差是半波長的整數倍。
任意一條明條紋或暗條紋所在位置的薄膜厚度相等。
任意相鄰明條紋或暗條紋所對應的薄膜厚度差恆定。
套用：劈尖乾涉廣泛套用於檢查玻璃工件的表面平整度，以及測量微小距離變化等。
通過分析乾涉圖案的變化，可以確定被測物體的表面形貌及質量。