磁天平的原理主要基於磁性物質在梯度磁場中受到的磁力，通過測量這種力來計算物質的磁化強度和磁化率。具體來說，當磁性物質被放置在非均勻磁場中時，它會受到一個沿著磁場梯度方向的力，這個力的大小與物質的磁化率、體積和所處位置的磁場梯度有關。通過測量這個力，可以計算出物質的磁化率，進而得到其磁化強度。
基本原理：
磁天平通過測量樣品在梯度磁場中受到的力來計算其磁化率。
樣品受到的力可以表示為 (F = \mu_0 M_s V \frac{dH}{dx})，其中 (M_s) 是飽和磁化強度，(V) 是體積，(\mu_0) 是真空磁導率，(dH/dx) 是磁場梯度。
測量方法：
使用已知磁體（如光譜純Ni）的飽和磁矩作為標準，與被測樣品的磁矩進行比較。
通過測量樣品在磁場中的受力變化，得到物質的磁化率和飽和磁矩。
套用：
磁天平不僅用於測量磁化率和磁化強度，還廣泛套用於材料科學、地質學和生物學等領域。
其他技術：
CTP磁天平利用電磁感應和磁懸浮技術，通過測量懸浮物體所需的電流來實現精確稱重。
電子天平使用電磁力平衡原理，通過調整線圈中的電流來平衡物體的重力，從而實現精確稱重。
綜上所述，磁天平通過測量樣品在梯度磁場中受到的力來計算其磁化率和磁化強度，是一種高精度、廣泛套用於多個領域的檢測裝置。