衰減全反射法（ATR）是一種光譜技術，主要用於獲取樣品表面或界面層的結構和成分信息。這種方法利用內部反射原理，其中光線在一個光學材料（即ATR感測器）中傳播，這個材料的折射率高於周圍介質的折射率。ATR感測器成為了一個波導裝置，通過在表面處發射能量來有效延長光程，從而增加與樣品相互作用的可能性。
在ATR中，光線在感測器內部經歷多次反射，形成一個隱失波，這個波的穿透深度取決於樣品的特定波長。因此，即使是非常薄的樣品層（例如100微米或更少），也可以獲得足夠的光譜信息。這種方法特別適用於固體和液體樣品，允許無需樣品製備或稀釋即可進行測量，因此在化學反應監測、聚合物分析等領域有廣泛套用。
ATR的套用不僅限於紅外光譜法，它也可以與其他類型的光譜技術結合使用，如拉曼光譜。此外，ATR技術還在金融領域得到了套用，例如作為衡量市場波動性的指標（ATR指標）。