外差乾涉原理

外差乾涉原理是一種結合了光學乾涉原理和外差原理的技術，主要用於高精度的測量套用。外差乾涉儀通常使用兩種不同頻率的光束，一種是測量光束，另一種是參考光束，這些光束在乾涉儀中相遇並產生乾涉現象。當兩束光線重合時，它們會互相乾涉，導致光強的變化，通過測量這種變化，可以得到物理量的信息，如位移、波長等。

在外差乾涉儀中，引入的頻率差異（或相位差異）對測量精度和靈敏度有重要影響，這種技術可以在納米級別進行精確測量，並被廣泛套用於光學科學、材料科學、生命科學以及工業生產等多個領域。