MBIST（Memory Built-In Self-Test）是一種存儲器內建自測試技術，它通過在存儲器模組內部集成測試邏輯電路來進行自我測試。這種技術可以全面測試嵌入式存儲器等具有複雜電路結構的嵌入式模組。MBIST電路包括測試向量產生電路、BIST控制電路和回響分析電路，能夠自動產生測試向量、控制讀寫操作，並分析測試結果。
MBIST能夠檢測存儲器中的各種故障，包括卡住（SAF）、轉換延遲故障（TDF）、耦合（CF）和鄰域模式敏感故障（NPSF）。它使用內置的時鐘、地址和數據生成器以及讀寫控制器邏輯來生成測試模式。
MBIST可以在晶片生產過程中用於篩選不良的die，也可以在產品使用過程中檢測故障，以保證硬體系統的可靠性。結合BISR（Built-in Self-Repair）技術，MBIST還能實現存儲器的自愈，自動完成自診斷-自修復過程。
存儲器測試算法包括MSCAN、棋盤算法、桌球算法、蝶形算法和March算法等，其中March算法具有較高的故障覆蓋率和較短的測試時間。例如，March C算法通過特定的寫讀操作順序能檢測所有的TF、AF和CP，其時間複雜度為11N，通過最佳化可以降至10N。